智能制造与控制工程基础
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课程列表
【第1集】1．自动控制系统发展简史（上） 译
【第2集】1．自动控制系统发展简史（下） 译
【第3集】2．自动控制系统的初步概念 译
【第4集】3．自动控制系统的分类（上） 译
【第5集】3．自动控制系统的分类（下） 译
【第6集】4．自动控制系统的基本要求 译
【第7集】5．工业4.0-从智慧工厂到智能生产 译
【第8集】6．中国制造2025（上） 译
【第9集】6．中国制造2025（下） 译
【第10集】7．智能制造新时代 译
【第11集】8．物理系统的数学模型(1) 译
【第12集】9．物理系统的数学模型(2) 译
【第13集】10．典型环节的数学模型 译
【第14集】11．系统的动态结构图(1)（上） 译
【第15集】11．系统的动态结构图(1)（下） 译
【第16集】12．系统的动态结构图(2) 译
【第17集】13．信号流程图与梅逊公式(1) 译
【第18集】14．信号流程图与梅逊公式(2) 译
【第19集】15．控制系统的时间响应性能指标（上） 译
【第20集】15．控制系统的时间响应性能指标（下） 译
【第21集】16．一阶系统的暂态响应 译
【第22集】17．二阶系统的暂态响应(1)（上） 译
【第23集】17．二阶系统的暂态响应(1)（下） 译
【第24集】18．二阶系统的暂态响应(2)（上） 译
【第25集】18．二阶系统的暂态响应(2)（下） 译
【第26集】19．高阶系统的暂态响应（上） 译
【第27集】19．高阶系统的暂态响应（下） 译
【第28集】20．根轨迹的基本知识（上） 译
【第29集】20．根轨迹的基本知识（下） 译
【第30集】21．根轨迹绘制的基本规则(1)（上） 译
【第31集】21．根轨迹绘制的基本规则(1)（下） 译
【第32集】22．根轨迹绘制的基本规则(2) 译
【第33集】23．根轨迹绘制的基本规则(3) 译
【第34集】24．利用根轨迹分析系统性能(1) 译
【第35集】25．利用根轨迹分析系统性能(2) 译
【第36集】26．频率特性的基本概念（上） 译
【第37集】26．频率特性的基本概念（下） 译
【第38集】27．幅相频率特性(1) 译
【第39集】28．幅相频率特性(2) 译
【第40集】29．幅相频率特性(3)（上） 译
【第41集】29．幅相频率特性(3)（下） 译
【第42集】30．对数频率特性(1)（上） 译
【第43集】30．对数频率特性(1)（下） 译
【第44集】31．对数频率特性(2) 译
【第45集】32．对数频率特性(3)（上） 译
【第46集】32．对数频率特性(3)（下） 译
【第47集】33．对数频率特性(4)（上） 译
【第48集】33．对数频率特性(4)（下） 译
【第49集】34．控制系统的稳定性（上） 译
【第50集】34．控制系统的稳定性（下） 译
【第51集】35．劳斯稳定判据（上） 译
【第52集】35．劳斯稳定判据（下） 译
【第53集】36．劳斯判据的应用（上） 译
【第54集】36．劳斯判据的应用（下） 译
【第55集】37．辐角定理 译
【第56集】38．奈奎斯特稳定判据(1)（上） 译
【第57集】38．奈奎斯特稳定判据(1)（下） 译
【第58集】39．奈奎斯特稳定判据(2)（上） 译
【第59集】39．奈奎斯特稳定判据(2)（下） 译
【第60集】40．伯德图的稳定性分析（上） 译
【第61集】40．伯德图的稳定性分析（下） 译
【第62集】41．基于频率特性的性能分析与优化(1)（上） 译
【第63集】41．基于频率特性的性能分析与优化(1)（下） 译
【第64集】42．基于频率特性的性能分析与优化(2)（上） 译
【第65集】42．基于频率特性的性能分析与优化(2)（下） 译
【第66集】43．控制系统的稳态误差 译
【第67集】44．静态误差系数法(1) 译
【第68集】45．静态误差系数法(2) 译
【第69集】46．降低稳态误差的方法 译
【第70集】47．校正方式 译
【第71集】48．系统的性能指标 译
【第72集】49．串联校正装置及其特性（上） 译
【第73集】49．串联校正装置及其特性（下） 译
【第74集】50．串联校正的频率法设计(1) 译
【第75集】51．串联校正的频率法设计(2) 译
【第76集】52．串联校正的根轨迹法设计(1) 译
【第77集】53．串联校正的根轨迹法设计(2) 译
【第78集】54．串联校正装置的期望对数频率特性设计法 译
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